Last up date 1999/10/06
平成11年度機器・分析技術研究会
講演概要(ポスター)
AFM用雰囲気制御型試料室の作成 静岡大学 工学部 ○中本 順子、吉田 真也 AFMによる試料表面の観察において、試料に物理的操作(ガスを流す、光照射、加熱)を行いながら測定することが要求された。そこでこのような条件下での測定を可能にするために雰囲気制御型試料室の作成を試みた。
冨田 靖正、小林健吉郎