Last up date 1999/09/27
平成11年度機器・分析技術研究会 講演概要(口頭発表)
13 二重変調方式による高性能光半導体解析システムの紹介 静岡大学 電子工学研究所 青山 満 中赤外光のデバイスの測定では、周りからの熱輻射成分が測定系にバックグラウンドとして加わり、微弱な信号の測定が困難になる。そこで、二重変調することで、デバイスからの信号成分のみを取り出すこととした。
二重変調方式による高性能光半導体解析システムの紹介
静岡大学 電子工学研究所 青山 満
中赤外光のデバイスの測定では、周りからの熱輻射成分が測定系にバックグラウンドとして加わり、微弱な信号の測定が困難になる。そこで、二重変調することで、デバイスからの信号成分のみを取り出すこととした。
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