平成１０年度機器・分析技術研究会
講演概要
| Since 1998.10.12 |
| ２ | 蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）による信頼性の高い微量元素測定法の開発 |
| 東京大学 理学系研究科 理学部 吉田 英人 | |
| 蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）を用いて ppm オーダーの元素を分析する時、様々な原因のため信頼性の高い値を得ることは大変むずかしい。今回は複数の誤差の原因を分類し、それぞれについて検討を加えることにより、検出限界付近でも十分な精度で測定ができるまでの技術開発について報告する。 | |
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